Elektronová mikroskopie a mikroanalýza, Praha

Přístrojové vybavení

Koncepce přístrojového vybavení laboratoře elektronové mikroskopie a mikroanalýzy je založena na možnostech komplexního studia různých typů vzorků elektronovým svazkem.

Rastrovací elektronový mikroskop CamScan CS 3200

Rastrovací elektronový mikroskop je základním přístrojem laboratoře. Kromě obvyklých a rozšířených funkcí mikroskopu zajišťuje i správnou funkci přídavných mikroanalytických systémů. Samotný mikroskop umožňuje studium vzorků v sekundárních, zpět odražených, absorbovaných elektronech a katodoluminiscenčním záření. Je využíván pro výzkum charakteru povrchu vzorků a jejich chemického složení. Ve spojení s mikroanalytickými systémy slouží i k detailnímu mikrochemickému studiu.

Mikroanalytický systém Link ISIS 300 s energiově disperzním SiLi spektrometrem (Oxford Instruments)

Jádrem mikroanalytického systému Link ISIS 300 je energiově disperzní spektrometr tvořený křemíkovým krystalem dotovaný lithiem. Tento analytický systém se využívá převážně pro běžnou analýzu základních horninotvorných silikátových minerálů. Dále je využíván při vytváření distribučních rtg. map jednotlivých chemických prvků, modální mineralogické analýze, úsečkové a plošné analýze. Systém Link ISIS 300 umožňuje rychlou a spolehlivou analýzu chemických prvků v rozsahu B – U.

Mikroanalytický systém WDX 3PC s vlnově disperzním spektrometrem (Microspec)

Vlnově disperzní mikroanalytický systém WDX 3PC provádí spektrální analýzu rentgenového záření pomocí difrakce na vhodně zvoleném krystalu. Chemická analýza je získávána na základě vyhodnocení záznamu spektra zpracovatelským softwarem s možností optimálního využití několika korekčních metod (ZAF, Phi-Ro). Kombinace čtyř krystalů s různými mezirovinnými vzdálenostmi umožňuje velmi přesnou kvalitativní a kvantitativní analýzu chemických prvků v rozsahu O – U s velmi nízkými limity detekce.

Systém difrakce zpět odražených elektronů (EBSD) NORDLYS II (HKL Technology)

Systém EBSD umožňuje při specifické geometrii detekovat difraktované zpět odražené elektrony a s využitím funkcí softwaru Channel 5 (HKL Technology) získaná data dále zpracovávat. Principem funkce přístroje je detekce obrazů difraktovaných zpět odražených elektronů snímaných CCD kamerou na scintilátoru, kde dochází k přeměně jejich energie na viditelné záření. Získaný obraz v digitální podobě je dále zpracováván. Systém umožňuje velmi efektivně získat velké množství cenných dat vycházejících ze struktury studovaných fází, spojených s analýzou digitálního obrazu.

Doplňující přístrojové vybavení

Leštící zařízení KOMPAKT s automatickým nástavcem APX (MTH Hrazdil)

Laboratoř rentgenové mikroanalýzy je vybavena speciálním leštícím zařízením, které je využíváno pro úpravu povrchu preparátů procesem chemického leštění. Zařízení umožňuje přípravu vysoce kvalitních preparátů pro analýzu systémem difrakce zpět odražených elektronů (EBSD). Leštící zařízení rozšiřuje možnosti úpravy vzorků v rámci laboratoře v případě náročných požadavků na mimořádnou kvalitu jejich povrchu

Přesná pila MIKRON 3000 (MTH Hrazdil)

Přesná pila MIKRON 3000 je v laboratoři využívána pro přípravu velmi přesných a čistých řezů pro potřeby studia orientovaných preparátů metodami EBSD. Umožňuje vytvářet velmi přesně orientované řezy studovaných vzorků. Zařízení je schopno připravovat i velmi tenké řezy (až 0,03 mm) pro speciální aplikace. Vytváření orientovaných řezů probíhá s využitím nízkorychlostního řezání za minimálního přítlaku, kdy nedochází k deformaci struktury krystalických fází studovaných vzorků.