Zalinkuj stránku v:

Česká geologická služba – sekce Služby

PřihlášeníPřihlášení
Nahrávám
Úvodní stránka > Služby > Laboratoře > LAREM > Služby > SEI

Elektronová mikroskopie a mikroanalýza, Praha

Nabídka služeb - analytické metody a možnosti

Analýza povrchu vzorku pomocí detekce sekundárních elektronů - SEI (secondary electron images)

Sekundární elektrony vznikají interakcí urychlených primárních elektronů s povrchem vzorku procesem tzv. nepružných srážek. Sekundární elektrony se vyznačují velmi nízkou energií a jejich vznik je vázán na povrchovou zónu analyzovaného vzorku.

Oblasti vzniku produktů interakce primárních elektronů a povrchu analyzovaného vzorku

Oblasti vzniku produktů interakce primárních elektronů a povrchu analyzovaného vzorku

Detekcí sekundárních elektronů při procesu rastrování elektronového svazku a následnou digitalizací získáváme snímky povrchů vzorků pořízených v sekundárních elektronech. Tyto snímky můžeme využít pro studium paleontologických a biologických preparátů, morfologie mikrokrystalů, mikropórů v uhlíkatých sloučeninách nebo k vytváření reliéfových map s výhodou neobyčejně velké hloubky ostrosti obrazu.

Textura aragonitu schránky gastropoda Coralliophila Campo

Krystaly minerálu arzenolitu

Recentní gastropod z Rudého moře

Mikrokráter vytvořený v místě průběhu laserového svazku

ikonka souborů Soubory
ikonka kontaktůKontakty
Česká geologická služba
Geologická 577/6
152 00 Praha 5
tel.: +420251085217/220
fax: +420 251 818 748
jakub.haloda@geologycz