Elektronová mikroskopie a mikroanalýza, Praha

Nabídka služeb - analytické metody a možnosti

Analýza povrchu vzorku pomocí detekce sekundárních elektronů - SEI (secondary electron images)

Sekundární elektrony vznikají interakcí urychlených primárních elektronů s povrchem vzorku procesem tzv. nepružných srážek. Sekundární elektrony se vyznačují velmi nízkou energií a jejich vznik je vázán na povrchovou zónu analyzovaného vzorku.

Oblasti vzniku produktů interakce primárních elektronů a povrchu analyzovaného vzorku

Detekcí sekundárních elektronů při procesu rastrování elektronového svazku a následnou digitalizací získáváme snímky povrchů vzorků pořízených v sekundárních elektronech. Tyto snímky můžeme využít pro studium paleontologických a biologických preparátů, morfologie mikrokrystalů, mikropórů v uhlíkatých sloučeninách nebo k vytváření reliéfových map s výhodou neobyčejně velké hloubky ostrosti obrazu.

Všechny snímky pořízené v sekundárních elektronech byly získány pomocí rastrovacího elektronového mikroskopu CamScan CS 3200 naší laboratoře.

Textura aragonitu schránky gastropoda Coralliophila Campo

Krystaly minerálu arzenolitu

Recentní gastropod z Rudého moře

Mikrokráter vytvořený v místě průběhu laserového svazku